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XRF巖屑元素分析儀

GW-4040

GW-4040型XRF巖屑元素分析儀是利用初級X射線光子或其他微觀離子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)而進行物質(zhì)成分分析和化學態(tài)研究的方法。將X射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井是目前巖屑分析中最快速最便捷的技術,這項技術的獨到之處在于:能過巖屑化學元素組合特征的分析來識別巖性,再通過巖性的組合特征分析來判斷層位.因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。


測量氣體 Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等

測量范圍 詳情見技術指標表

應用領域 油氣開采過程中的巖屑錄井檢測

產(chǎn)品特性
1、性能

高性能:優(yōu)選進口X射線管以及高性能探測器,確保長期的穩(wěn)定性以及準確度。

快響應:相對于傳統(tǒng)的實驗室化驗等方式,光學檢測手段可以一秒內(nèi)可以進行多次檢測。

長壽命:無需耗材,壽命最長可達5-8年,綜合使用成本更低。

2、便利性

相對于傳統(tǒng)類的實驗室設備,我們的光學設備無需任何耗材以及輔助設備,方便在作業(yè)現(xiàn)場進行便攜使用。為了更好的讓客戶在野外操作,設備還需抗震和牢固,我們首先給設備配備了拉桿式鋁合金包裝箱,讓運輸更安全。

其次整體光路模塊采用整體不銹鋼CNC一體加工,從來穩(wěn)定性牢固性更好。

3、準確性

儀器集成了管壓檢測、溫度檢測,實時監(jiān)控腔內(nèi)的真空壓力和溫度,確保檢測的精度。真空腔內(nèi)置過濾隔離裝置,仿制待測體的灰塵進入探測器探頭和射線管端子,導致污染損壞。內(nèi)置步進電機使樣品環(huán)在檢測過程中始終處于旋轉(zhuǎn)狀態(tài),提供檢測的準確度。

技術指標

分析元素

Al、Si、P、S、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Ca、Ti、V、Cu、Sn等

探測下限

Al、Si、P、S、Ca:0.01%

Ti、V、Cr、Fe、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn:0.001%

分析范圍

0.0001%~100%

能量范圍

1-30keV

采樣時間

<180秒

重復性誤差

≤±1%F.S

穩(wěn)定性

≤±1%F.S

輸出信號

RS-232&USB數(shù)字輸出

配件

真空泵+筆記本電腦+壓片機

外殼尺寸

355*250*380(長*寬*高)

重量

36kg

 *具體產(chǎn)品可能會有細微偏差  | 工作在溫度25℃和1013 mbar 測試數(shù)據(jù)

技術原理

1-技術原理

利用初級X射線光子激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級X射線)。不同元素發(fā)出的特征X射線能量和波長各不相同,因此通過對X射線的能量或者波長的測量可以對元素進行定性的分析;同時樣品受激發(fā)以后發(fā)射某一元素的特征X射線強度跟元素在樣品中的含量有關,因此可以對元素進行定量分析。

2-光學結(jié)構

分析儀由如下光學技術平臺構成,該技術平臺由X射線管、真空倉、探測器等光學組件構成。X射線管發(fā)出的光直接照射在待測樣品,激發(fā)待測物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光,被探測器接收。

通過對熒光譜線進行分析,可以分析出待測樣品中的元素成分和含量。

3-元素光譜

金屬元素的光譜

不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長,因此根據(jù)熒光X射線的波長可以確定元素的組成。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發(fā)出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。

4-巖屑成分

可一次性實現(xiàn)多達十幾種元素的快速、無損、準確分析。

自動穩(wěn)譜,消除譜峰水可載舟漂移影響,精確度達98%以上。

集成大量數(shù)據(jù)庫,并實時更新,目前可以識別巖屑成分多達上百種。


應用場景

GW-4040型XRF巖屑元素分析儀,是本公司針對石油氣、天然氣、煤層氣、頁巖氣等清潔能源的開采而專門開發(fā)的高精度光學巖屑元素分析儀。可以很好的解決人工判斷的誤差性,以及傳統(tǒng)設備的不便捷性,更好了為測錄井提供原始數(shù)據(jù)。該設備小巧無輔助設備,目前在油田得到廣大客戶的使用。

產(chǎn)品主要用于以下場合:

● 油氣鉆井巖屑錄井;

● 物探巖石檢測等。

應用案例
產(chǎn)品視頻
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